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        產品目錄 Product catalog
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        產品名稱:德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

        產品型號:XDL 240

        產品報價:

        產品特點:德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀采用自動方式,測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。

        XDL 240德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀的詳細資料:

        德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

        FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240

        射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用自動方

        式,測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層

        及大規模生產的零部件上的鍍層。

         

        德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

        簡介

        FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及

        材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能全自

        動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

        XDL 240 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

        典型的應用領域有:

        • 測量大規模生產的電鍍部件

        • 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

        • 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

        • 全自動測量,如測量印刷線路板

        • 分析電鍍溶液

        XDL 240 有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。

        比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。

        由于采用了 FISCHER 完全基本參數法,因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣

        品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

        設計理念

        FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。馬達驅動的 X-

        工作臺,當測量門打開時,工作臺會自動移到放置樣品的位置;馬達驅動的 Z 軸系

        統,可編程運行。

        高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以精確定位測量位置。通過視頻

        窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測

        量位置。

        測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測

        量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。

        帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的精確調

        整。

        所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能

        強大而界面友好的 WinFTM ® 軟件在電腦上完成。

        XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受完全保護的儀器,型式許可完全符合

        德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規的規定。

         

        德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

        通用 規格

        設計用途 能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液

        分析。

        元素范圍 從元素 氯(17) 到 鈾(92)

        配有可選的 WinFTM® BASIC 軟件時,zui多可同時測定 24 種元素

        設計理念 臺式儀器,測量門向上開啟

        測量方向 由上往下

        X  射線源

        射線管  帶鈹窗口的鎢管

        高壓 三檔: 30 kV,40 kV,50 kV

        孔徑(準直器) Ø 0.3 mm 可選:Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;長方形 0.3 mm x 0.05 mm

        測量點尺寸 取決于測量距離及使用的準直器大小,

        實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的*

        zui小的測量點大小約 Ø 0.2mm

        X  射線探測

        射線接收器

        測量距離

        比例接收器

        0 ~ 80 mm,使用保護的 DCM 測量距離補償法

        樣品定位

        視頻系統

        高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置

        手動聚焦,對被測位置進行監控

        十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸)

        可調節亮度的LED照明,激光光點用于精確定位樣品

        放大倍數 40x  160x

        電氣參數

        電源要求 220 V ,50 Hz

        功率 zui大 120 W (不包括計算機)

        保護等級 IP40

        尺寸規格

        外部尺寸 寬×深×高[mm]570×760×650

        內部測量室尺寸 寬×深×高[mm]460×495x(參考“樣品zui大高度”部分的說明)

        重量 120 kg

        環境要求

        使用時溫度 10° 40°C

        存儲或運輸時溫度 0° 50°C

        空氣相對濕度 ≤ 95 %,無結露

        工作臺

        設計 馬達驅動,可編程 X/Y 平臺

        255 x 235 mm

         80 mm/s

         0.01 mm 單向

        300 x 350 mm

        馬達驅動,可編程運行

        140 mm

        5 kg,降低精度可達 20kg

        140 mm

        X/Y 平臺zui大移動范圍

        X/Y 平臺移動速度

        X/Y 平臺移動重復精度

        可用樣品放置區域

        軸移動范圍

        樣品zui大重量

        樣品zui大高度

        激光(級)定位點

        計算單元

        計算機 帶擴展卡的 Windows ® 計算機系統

        軟件 標準: WinFTM ® V.6 LIGHT

        可選: WinFTM ® V.6 BASIC,PDM,SUPER

        執行標準

        CE 合格標準  EN 61010

        型式許可 作為受完全保護的儀器

        型式許可完全符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規的規定。

         

        德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

        訂貨號

        FISCHERSCOPE X-RAY XDL240  604-498

        如有特殊要求,可與 FISCHER 磋商,定制特殊的 XDL 型號。

        FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ®  Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen  Germany 的注冊商標。

        Windows ®  Microsoft Corporation 在美國及其他地區的注冊商標。

         

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